3월의 콘텐츠: 아이 다이어그램과 지터 분석으로 완성하는 신호 무결성
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안녕하세요, 웨이브인센스입니다.


어느덧 1분기를 마무리하는 3월의 마지막 주입니다.
새로운 프로젝트 기획과 R&D 과제를 추진하시느라 바쁜 시기일 것으로 생각됩니다.

웨이브인센스에서는 매월 마지막 주, 실무에 도움이 되는 핵심 기술 콘텐츠를 정리해 전달드립니다.
이번 달에는 고속 디지털 설계의 핵심인 신호 무결성(SI) 분석과 지터(Jitter) 디버깅 솔루션을 중심으로 다루었습니다.

지금 바로 이달의 주요 기술 가이드를 확인해 보세요.


 ✍🏻 3월의 어플리케이션 노트(Application Note)
WaveInSense_EyeDiagram
아이 다이어그램은 수만 개의 비트 시퀀스를 중첩하여 전체적인 신호 품질 상태를 직관적으로 시각화하고 검증할 수 있는 표준 방법입니다.
RIGOL 오실로스코프는 실시간 중첩 성능을 통해 간헐적인 신호 이상까지 정확하게 포착합니다.

 🔍 주요 측정 지표
- 눈 높이(Eye Height)와 노이즈 마진 : 눈의 수직 열림 정도를 통해 전압 차이에 따른 노이즈 저항력을 파악합니다.
- 눈 너비(Eye Width)와 지터 : 눈의 가로 너비를 통해 타이밍 지터 발생 여부와 데이터 샘플링 오류 확률을 확인합니다.
- 상승/하강 엣지(Rise/Fall Edge)와 대역폭 : 신호 전이 기울기를 통해 시스템 대역폭 제한으로 인한 신호 왜곡 문제를 진단합니다.
WaveInSense_Jitter TIE
WaveInSense_Jitter Bimodal Histogram
지터는 수천 번 이상의 클럭 천이 과정에서 발생하는 미세한 시간 변화를 의미하며, 신호의 시간적 정밀도를 수치화하여 분석하는 필수 지표입니다.

 🔍 주요 측정 지표
- TIE(Time Interval Error) : 이상적인 기준 클럭 엣지와 실제 포착된 클럭 엣지 사이의 시간 차이로, 지터 분석의 가장 기초가 되는 개념입니다.
- 통계적 분석 : RIGOL 오실로스코프의 깊은 메모리를 활용하여 TIE 추세 그래프와 히스토그램을 생성하고, 이를 통해 지터의 주기적 패턴과 근본 원인(Root Cause)을 도출합니다.
 🎁 다가오는 행사
* 행사 소개 이미지를 클릭하시면, 상세 정보를 확인하실 수 있습니다.
1. RIGOL 웨비나 (3/31, 오후 3시) D-DAY
- 전자계측기 역할과 사용 포인트 이해하기
3/31 RIGOL 웨비나 사전등록
2. 웨이브인센스 웨비나 (4/9, 오후 2시)
- RF 엔지니어가 푸는 고속 디지털 시스템의 SI/PI/EMI
4/9 WaveInSense 웨비나_사전등록
㈜웨이브인센스
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